3. Konferenz zur Optischen Charakterisierung von Materialien

21. und 22.-23. März 2017

Die Internationale Konferenz zur Optischen Charakterisierung von Materialien (OCM-2017) wird von dem Karlsruher Zentrum für Materialsignatur (KCM) in Kooperation mit dem deutschen Institute of Electrical and Electronics Engineers (IEEE) organisiert. Das KCM ist ein Zusammenschluss des Karlsruher Instituts für Technologie (KIT) und der Abteilung Sichtprüfung des Fraunhofer-Instituts für Optronik, Systemtechnik und Bildauswertung (IOSB).